陳先生
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2970613037@qq.com在安排測試篩選先后次序時(shí)，有兩種方案：
方案1：將不產(chǎn)生連環(huán)引發(fā)效果的失效模式篩選放在前面，將可以與其他失效模式產(chǎn)生連環(huán)引發(fā)效果的失效模式篩選放在后面。
方案2：將可以與其他失效模式產(chǎn)生連環(huán)引發(fā)效果的失效模式篩選放在前面，將不產(chǎn)生連環(huán)引發(fā)效果的失效模式篩選放在后面。
如果選擇方案1，會發(fā)現(xiàn)將可以與其他失效模式產(chǎn)生連環(huán)引發(fā)效果的失效模式篩選放在后面時(shí)，出現(xiàn)本身失效模式?jīng)]有被觸發(fā)、其他關(guān)聯(lián)的相關(guān)失效模式被觸發(fā)的情況時(shí)，這種帶有缺陷的元器件不能被準(zhǔn)確地定位、剔除，因?yàn)樵擃愂Ｊ降臋z測已經(jīng)在前面做過了。而選擇方案2就可以非常有效地避免上述問題的發(fā)生，使篩選過程優(yōu)質(zhì)、經(jīng)濟(jì)和高效。
測試順序的安排是后面的參數(shù)能夠檢查元器件經(jīng)前面參數(shù)測試后可能產(chǎn)生的變化。對有耐電壓、絕緣電阻測試要求的元器件，耐壓在前、絕緣在后，功能參數(shù)最后測試；對有擊穿電壓和漏電流測試要求的元器件，擊穿電壓在前，漏電流在后，功能參數(shù)最后測試。
目前國內(nèi)使用的主要篩選方法如下：www.wodong.cc
a)外觀檢查：用10倍放大鏡檢查外形、引線及材料有無缺陷。
b)溫度循環(huán)：使元器件交替暴露在規(guī)定的極限高溫和極限低溫下，連續(xù)承受規(guī)定條件和規(guī)定次數(shù)的循環(huán)，由冷到熱或由熱到冷的總轉(zhuǎn)移時(shí)問不超過1 min，保持時(shí)間不小于10 min。
c)高溫壽命(非工作：按照國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的壽命試驗(yàn)要求，使元器件在規(guī)定的環(huán)境條件下(通常是最高溫度)存儲規(guī)定的時(shí)間。
d)電功率老煉：按降額條件達(dá)到最高結(jié)溫下的老煉目的，老煉功率按元器件各自規(guī)定的條件選取。
e)密封性試驗(yàn)：有空腔的元器件，先細(xì)檢漏，后粗檢漏。
f)電參數(shù)測試(包括耐壓或漏電流等測試)：按產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范合同規(guī)定進(jìn)行。
g)功能測試：按產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范合同規(guī)定進(jìn)行。
基于以上原理，優(yōu)化了元器件測試篩選先后次序，按照失效模式的分類，對檢測篩選手段依據(jù)元器件測試篩選先后次序的原則進(jìn)行排序，首先按照失效概率進(jìn)行排序：排序結(jié)果如表1所示。
表1中：失效概率等級是依據(jù)各種檢測手段下可能觸發(fā)缺陷的概率比較所得，由于元器件到達(dá)使用廠家時(shí)經(jīng)過各種運(yùn)輸、存儲過程，所以外觀破裂、銹蝕等情況發(fā)生比較多見，一般占元器件失效總數(shù)的40％左右，所以將外觀的失效概率等級放置在第1位；溫度循環(huán)和高溫壽命(非工作)失效概率等級相同，考慮經(jīng)濟(jì)性和時(shí)間性，所以溫度循環(huán)放置在第2位；高溫壽命(非工作)放置在第3位。防雷元器件采購
按照原則排序后，還加上一次外觀檢查，主要是為了防止測試篩選過程中由于在不同實(shí)驗(yàn)室之間轉(zhuǎn)運(yùn)而發(fā)生外觀破損等現(xiàn)象，保證檢驗(yàn)結(jié)束后的元器件外觀合格。這樣就得到圖1所示的篩選工作流程圖。
圖1 優(yōu)化后的篩選工作流程
由圖1可以看出，依據(jù)決定元器件測試篩選先后次序的原則優(yōu)化以后的篩選順序能夠及時(shí)判別各種失效的發(fā)生，同時(shí)，當(dāng)元器件產(chǎn)生失效時(shí)，通過失效時(shí)元器件所處的階段準(zhǔn)確判定元器件的失效模式，為元器件和整機(jī)系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)提供了準(zhǔn)確的依據(jù)。
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